磁性測厚儀采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。本儀器能廣泛地應用在電鍍、防腐、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領域。是材料保護專業常用的儀器。
影響磁性測厚儀測量精度因素主要有以下幾點：
(1) 覆蓋層厚度大于25?m時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2) 基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關;
(3) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
(4) 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的.
(5) 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7) 磁性測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感.因此測量前應調整測頭和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.
磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦流產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有gamma;射線、beta;射線等。
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